工业园区测试探针卡研发

    探针卡保管环境要求：1.探针卡的保管环境对针卡的寿命起到很大的作用，可以延长针卡的使用周期；2.在无尘室里面提供专门的针卡保管架；3.洁净室的温湿度控制可根据贵公司的温湿度标准执行。探针卡注意事项：1.严禁在湿度较大的地方存放；2.严禁在洁净房以外的地方存放.3注意轻拿轻放，防止大震动改变针卡的平坦度和排列。探针卡使用中出现的问题和处理方法1.在较长时间不使用后容易出现针前列面氧化，在检测时会出现探针和ITO或PAD接触不良的现象。处理方法：出现此现象时请不要连续加大OD，从探针台上取下针卡利用sanding砂纸对针前列进行轻微的打磨，避免搭理使针的平坦度和排列变形。2.如果洁净房的湿度相对较大时，水份会侵入EPOXY的内部而且不易散发出去，再生产测试前会出现空测短路现象。处理方法：出现此现象时，请吧针卡放入OVEN里面温度设为80°时间设为15分钟，结束后用显微镜检查针尖部分是否有异物或灰尘附着，如没有异常就可以进行作业了。 苏州矽利康测试探针卡供应商。工业园区测试探针卡研发

TSMC主推的CoWoS和InFO技术CoWoS(Chip-on-Wafer-on-Substrate)和InFO(IntegratedFanOut)是台积电推出的2.5D封装技术，称为晶圆级封装。台积电的2.5D封装技术把芯片封装到硅载片上，并使用硅载片上的高密度走线进行互联。CoWoS针对较好市场，连线数量和封装尺寸都比较大。InFO针对性价比市场，封装尺寸较小，连线数量也比较少。目前InFO技术已经得到业界认可，苹果在iPhone7中使用的A10处理器即将采用InFO技术。Wide-IO标准、HBM标准、HMC技术都和内存相关，下表是有关Wide-IO，HMC，HBM及DDR标准比较。Wide-IO，HMC，HBM及DDR标准比较云南专业提供测试探针卡苏州矽利康测试探针卡那些厂家。

    在半导体的整个制造流程上,可简单的分成IC设计、晶圆制造、晶圆测试以及晶圆封装。晶圆测试又可区分为晶圆针测与晶粒封装后的后面的测试(FinalTesting),而两个测试的差别是晶圆测试是是针对芯片上的晶粒进行电性以及功能方面的测试,以确保在进入后段封装前,可以及早的将那些功能不良的芯片或晶粒加以过滤,以避免由于不良率的偏高因而增加后续的封装测试成本,而晶粒封装后的功能测试主要则是将那些半导体后段封装过程中的不良品作后面的的把关,以确保出厂后产品的品质能够达到标准。然而晶圆测试的主要功能,除了可将不良的晶粒尽早筛选出来,以节省额外的后段封装的制造成本外,对於前段制程来说,它其实还有一项很重要的功能,也就是针对新产品良率的分析以及前段制程之间的异常问题分析,因为通常在前段新制程开发阶段或者是在产品程序修改后,产品可能会因此而发生良率下滑的情况,为了验证新制程的开发以及让产品能够尽快的上市,這個時候就需要晶圆测试部门在有限的时间内搭配着工程实验分析制程间的差异并在只是短的时间内找到真正的根本原因来解决问题,避免让客户的新产品因为制程间的问题而延后上市。晶圆探针卡是针对整个芯片上的完整晶粒。

    据IHS统计，2015年全球半导体营收3670亿美元，预计2016年增长，达到3730亿美元。中国半导体市场约1520亿美元，预计2019年达到1790亿美元，五年复合增长。中国占全球半导体市场比例未来几年维持在43%左右。与国内行业协会口径有差异，国内统计占比是在50%以上，主要是有些重复计算。目前，中国本土芯片供需缺口还是很大，2300亿美金的进口，大数是3个三分之一，我们自己整机企业消耗三分之一，信息外部企业消耗三分之一，比如汽车、装备之类，还有三分之一是跨国企业带进来又销出去。现在下游市场在向中国集中，集成电路产业必向中国集中。市场在什么地方，产业就必须在这个地方，如果不在一个地方是不符合经济规律的，这是必然趋势。今年二季度之后，半导体产业有向下的趋势。十家咨询公司预测，今年较乐观的4%左右，较悲观的有1%，明年有预测负增长的。整体对今明两年持谨慎态度，年增长平均值。从产品应用角度看，预计2016年智能手机消耗半导体780亿美元，较15年稍有增长，说明4G高峰期已过，5G还没到来。新兴市场增长快，但是基数还很小。固态硬盘增长15%，渗透率逐渐提高。有线通讯、工业电子、平板电脑、汽车电子等保持稳定增长。 矽利康测试探针卡厂家。

    晶圆探针卡又称探针卡，英文名称"Probecard"。广泛应用于内存、逻辑、消费、驱动、通讯IC等科技产品的晶圆测试，属半导体产业中相当席位的一环。当IC设计完成后，会下单给晶圆代工厂制作，晶圆制作完成后而尚未切割封装之际，为确保晶圆良率及避免封装的浪费，须执行晶圆电性测试及分析制程。探针卡预测试机构构成测试回路，与IC封装前，以探针测晶粒，筛选出电性功能不良的芯片，避免不良品造成后段造成品的浪费。随着半导体制程的快速进展，传统探针卡已面临测试极限，为满足高积密度测试，探针卡类型不断发展。探针卡的发簪前景及晶圆高科技设计的不断更新让人欢欣鼓舞，这表率科技的不断进步，但我们应看到探针卡依然面临不少挑战，比如探针成本不断增加，维修更换探针高科技人员的培养，通过有效控制测试机台在线清洁探针的频率及各种参数来提高探针卡使用寿命。总体来讲，晶圆探针卡的发展可谓机遇与挑战并存，需要高科技人员不断学习，跟上世界前列技术的步伐。 选择测试探针卡供应商。湖北寻找测试探针卡收费标准

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、探针与针套必须使用相同厂牌相互匹配。2、探针放入针套的时候必须使用特有的平口钳放入针套，预防针管变形使针管内的弹簧于管壁力变大，摩擦从而增大，则压力就变大，造成探针寿命变短和对所测试产品损坏。3、探针的针管顶端于针套的顶端必须是保持垂直（90°）针管低入针套，从而避免在工作中探针的探针行程避免过大，影响探针寿命和测试效果。4、探针在放入测试架前必须保持探针干净无其他杂物和脏东西，以免造成在测试过程中头部发黑，阻碍探针的正常工作，影响测试效果。5、探针测试次数达5万次时，建议使用（NSF认真）探针特有的清洁剂。6、针头与针管的行程在针头未工作的情况下的总长度1/2时已经达到1.8N的弹力，当行程在大于针头2/3时就达到2N（牛顿），逐而数之，全部压下则超出了探针的标准工作范围。影响探针的寿命。工业园区测试探针卡研发

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